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壓敏電阻的常見失效模式有哪些?

提問者:jf_97QwJBMu 地點:- 瀏覽次數(shù):1517 提問時間:08-30 13:52
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jf_1VxhEK67 08-30 13:52

壓敏電阻器(MOV)的常見失效模式主要包括以下幾種:

1. 開路失效:當MOV流過超出其承受能力的浪涌電流時,可能導致本體炸裂,表現(xiàn)為開路狀態(tài)。這種模式通常不會引起燃燒現(xiàn)象。

2. 短路失效:MOV可能因為內部結構的損壞或材料老化而發(fā)生短路,這通常與過電流保護方式的弊端有關。短路本身不會引起MOV損壞,但如果保險絲未損壞,這可能表明損壞不是由短路或過流引起的。

3. 性能劣化:表現(xiàn)為漏電流增大,壓敏電壓顯著下降,直至為零。這種劣化可能是由于材料老化或長期承受過電壓造成的。

4. 炸裂失效:如果過電壓引起的浪涌能量太大,超過了MOV的極限承受能力,MOV可能會發(fā)生陶瓷炸裂現(xiàn)象。

5. 穿孔失效:在某些情況下,MOV內部可能發(fā)生穿孔,導致失效。

6. 熱失效:由于散熱不良或環(huán)境溫度過高,MOV可能會因過熱而損壞。

7. 電壓擊穿:在某些情況下,MOV可能在未達到預定電壓時發(fā)生擊穿,導致短路。

了解這些失效模式有助于在設計和使用過程中采取適當?shù)谋Wo措施,以延長MOV的使用壽命并確保電路的安全運行。

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